產(chǎn)品描述
Ag/Al 手持式光譜儀用鋁上鍍銀厚度標(biāo)準(zhǔn)片
通過濺射或電鍍方法將高純度銀沉積在鋁基材上。是用于校準(zhǔn)便攜式手持XRF設(shè)備,以測量鋁基材上鍍銀的產(chǎn)品。手持式光譜儀用鋁上鍍銀標(biāo)準(zhǔn)片是堅(jiān)固不易彎曲的材料,安裝在帶有十字線的陽極氧化鋁板上,以方便手持XRF儀器的定位和校準(zhǔn)。
鋁上鍍銀厚度標(biāo)準(zhǔn)片選購指南:
Ag/Al (Silver/Aluminium) Handheld XRF Coating Thickness Standards |
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貨號 |
標(biāo)稱值 |
HHAG800AL999 |
800μin(20μm) |
HHAG1000AL999 |
1000μin(25μm) |
以上為常用厚度,如需要特殊厚度或需要其他基材,請聯(lián)系上海益朗儀器有限公司。
注意:
1.對于小于等于1微米(40μin)的厚度,交貨標(biāo)準(zhǔn)的允許厚度偏差為±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),則所交付標(biāo)準(zhǔn)的允許層厚度偏差為±15%。
3.均勻度:5%。
4.認(rèn)證厚度不確定度(95%置信區(qū)間)±5%。
定義:
均勻度的定義是:(厚度–小厚度)/平均
表示為百分比,其中可以在標(biāo)準(zhǔn)暴露表面的任何位置確定厚度。
由于箔片太脆弱而無法與手持式光譜儀一起使用,因此鋁上鍍銀厚度標(biāo)準(zhǔn)片以獨(dú)特的方式包裝,以便與手持式光譜儀一起使用。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)允許用戶在有或沒有視頻成像的情況下瞄準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),以便校準(zhǔn)便攜式XRF儀器的薄膜厚度和材料分析測試。適合用于以下品牌但不限于以下品牌:尼通、伊諾斯、奧林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪聲等。

我公司是一準(zhǔn)確測試儀器代理商,代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTI Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量,而且特別適合于對微細(xì)表面積或超薄鍍層的測量。以下是我集團(tuán)的其他主要產(chǎn)品:
美國OMEGA 600SMD離子污染測試儀
美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀
美國WALCHEM(禾威)電鍍藥液自動添加系統(tǒng)
美國ECI電鍍藥液分析系統(tǒng)
美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品
美國DICSON溫濕度記錄儀
日本KETT磁感/高周波涂層測試儀
日本YORITSU水質(zhì)離子測試包
德國SCANDIA研磨 / 拋光器材及消耗品
俄羅斯PTH-1/ITM-525手提式線路板孔銅測厚儀