產(chǎn)品描述
CEM3000系列電鏡掃描儀器空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非�？旖莸剡M行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000系列上還運用了快速抽放氣設(shè)計，讓用戶在使用時不再等待，且全系列可選配低真空系統(tǒng)，以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)樣品倉內(nèi)真空度，滿足不同樣品的觀測需求。
產(chǎn)品功能
1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；
2.快速抽放氣，縮短等待時間；
3.高易用性
可快速成像，一鍵成片；
4.多種成像參數(shù)
滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；
5.高抗振防磁性能
強抗干擾能力；
6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉內(nèi)真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測。
7.大樣品倉
SEM3000A在保證較小外形尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；
8.多探測器
可實現(xiàn)四分窗同時掃描成像。
性能特色
1.高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調(diào)節(jié)。
2.超高分辨率優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV。
3.超大景深毫米級別景深，具有高空間分辨率。
4.多探測器可實現(xiàn)四分窗同時掃描成像。
5.抗振性能優(yōu)異。
CEM3000系列電鏡掃描儀器在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。此外，該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、能源等多個領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
應(yīng)用領(lǐng)域
CEM3000系列電鏡掃描儀器外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設(shè)計，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富的自動調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M行觀測，具有高空間分辨率。
用戶可在CEM3000系列臺式掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時接收多種信號，對樣品進行分析。
應(yīng)用范例：
雙機型搭配
CEM3000系列臺式掃描電鏡，設(shè)有CEM3000A（大樣品倉）、CEM3000B（抗振型）兩款子機型，分別在樣品倉容量、抗振性方面進行了強化加深和技術(shù)拉通，兩者具有高通用性，但又各有千秋。
為客戶提供更適合的產(chǎn)品方案，讓用戶在進行分析時更加得心應(yīng)手。
部分技術(shù)指標(biāo)
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型號 |
CEM3000A（大樣品倉型） |
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電子槍 |
燈絲 |
鎢燈絲 |
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分辨率 |
優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE) @20kV |
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加速電壓 |
1 ~ 20kV |
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放大倍數(shù) |
電子圖：40 ~ 200,000×（可選配大圖拼接） |
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探測器 |
二次電子 |
標(biāo)配 |
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背散射電子 |
標(biāo)配（四象限高分辨探頭） |
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能譜儀 |
選配 |
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自動化軟件 |
標(biāo)配：自動合軸、自動聚焦、自動消像散、一鍵圖像增強 |
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選配：顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量、纖維測量、三維粗糙度重建 |
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真空系統(tǒng) |
真空度 |
高真空：優(yōu)于9×10-3Pa 低真空：5 ~ 100 Pa（選配） |
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抽真空時間 |
低真空模式 < 1.5min 高真空模式 < 3min |
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樣品臺 |
自動軸 |
X，Y，T |
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手動軸 |
R，Z |
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行程范圍 |
X: 50mm |
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Y: 50mm |
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R: 0°~360°（手動旋轉(zhuǎn)、電子束旋轉(zhuǎn)） |
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T: -22.5°~ 22.5° |
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Z: 45mm |
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樣品尺寸 |
70mm×70mm（水平） 45mm（高度） |
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倉內(nèi)相機 |
導(dǎo)航相機 |
標(biāo)配高分辨彩色相機 |
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側(cè)視相機 |
標(biāo)配高分辨紅外相機 |
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操作系統(tǒng) 圖片尺寸 |
Windows10 (64bit) |
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640×480 |
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1280×960 |
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2560×1920 |
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5120×3840 |
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10240×7680 |
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深圳市中圖儀器股份有限公司成立于2005年，致力于全尺寸鏈測量儀器及設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。
中圖儀器堅持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ)，擁有一支集光、機、電、信息技術(shù)于一體的技術(shù)團隊，歷經(jīng)20年的技術(shù)積累和發(fā)展實踐，研發(fā)出了基礎(chǔ)計量儀器、常規(guī)尺寸光學(xué)測量儀器、微觀尺寸光學(xué)測量儀器、大尺寸光學(xué)測量儀器、常規(guī)尺寸接觸式測量儀器、微觀尺寸接觸式測量儀器、行業(yè)應(yīng)用檢測設(shè)備等全尺寸鏈儀器及設(shè)備，能為客戶提供從納米到百米的測量解決方案。
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